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硫化鍺晶體

簡要描述：硫化鍺晶體 GeS(Germanium Sulfide)
晶體尺寸：~10毫米
電學(xué)性能：半導(dǎo)體
晶體結(jié)構(gòu)：斜方晶系
晶胞參數(shù)：a = 1.450, b = 0.364 nm, c = 0.430 nm, α = β = γ = 90°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

  • 更新時(shí)間：2024-06-02
  • 產(chǎn)品型號：
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 訪  問  量：1113

詳細(xì)介紹

硫化鍺晶體 GeS(Germanium Sulfide)
晶體尺寸：~10毫米
電學(xué)性能：半導(dǎo)體
晶體結(jié)構(gòu)：斜方晶系
晶胞參數(shù)：a = 1.450, b = 0.364 nm, c = 0.430 nm, α = β = γ = 90°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%


X-ray diffraction on a single crystal GeS aligned along the (001) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 4 XRD peaks correspond, from left to right, to (h00) with h = 2, 4, 6, 8


Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal GeS. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.


Stoichiometric analysis of a single crystal GeS by Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX).


Raman spectrum of a single crystal GeS. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.


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